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首页>>HORIBA-堀场(中国)贸易有限公司>>产品展示>>半导体制程监控

  • 实时膜厚检测仪DIGILEM-CPM-Xe/Halogen-电子/半导体检测仪器 参考价:面议

    实时膜厚检测仪DIGILEM-CPM-Xe/Halogen它是干涉测量设备,提供蚀刻/镀膜制程中高精度的膜厚及蚀刻沟深度检测。单色光打在样品表面,由于膜厚和高度...
    型号: 厂商性质:经销商所在地:上海市 对比
    上海实时膜厚检测仪膜厚检测仪上海实时膜厚
    2025/4/24 9:12:49699
  • EV-140C等离子发光分析终点检测仪-电子/半导体检测仪器 参考价:面议

    EV-140C等离子发光分析终点检测仪这是一套分析放射性发光的终点监测设备,专为以等离子技术为基础的半导体薄膜制程进行终点检定或等离子条件的监控而研制。的数学模...
    型号: 厂商性质:经销商所在地:上海市 对比
    上海等离子发光分析终点检测仪等离子发光分析终点检测仪
    2025/4/24 9:10:26221
  • 小型工艺气体分析仪MICROPOLE系统-电子/半导体检测仪器 参考价:面议

    小型工艺气体分析仪MICROPOLE系统是一种目前市面上zui小的质量能谱仪分析系统。通过享有的小型化设计将四电极质量过滤器进行排列,从而获得了*的紧凑尺寸。
    型号: 厂商性质:经销商所在地:上海市 对比
    上海小型工艺气体分析仪MICROPOLE系统上海分析仪MICROPOLE系统小型工艺气体
    2025/4/24 9:08:07226

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